日本納普森Napson手持探針電阻測(cè)試儀EC-80P無損檢測(cè)儀

更新時(shí)間：2024-06-29

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只需簡(jiǎn)單接觸筆型探針即可進(jìn)行測(cè)量

可在任意位置進(jìn)行測(cè)量，不會(huì)損壞樣品

易于操作的手持探針

通過切換測(cè)量模式，調(diào)整片材電阻和電阻率

可顯示在

通過JOG撥盤輕松設(shè)定測(cè)量條件

電阻測(cè)量探頭按范圍排列

寬敞，支持廣泛的范圍

（電阻探針:最多2根+PN判定探針

同時(shí)接続可能）

探頭2~第三條是可選的。

測(cè)量光斑直徑（探針芯直徑）:

14mmΦ

[電阻率] 1m 至200Ω.cm

(*所有探頭類型的總范圍/厚度500um)

[表面電阻] 10m 至3k2/sq

(*所有探頭類型的總范圍)

*有關(guān)每種探頭類型的測(cè)量范圍，請(qǐng)參見下文。

(1)低:0.01~0.5Ω/□(0.001~0.05Ω.cm)

(2)中:0.5~10Ω/□(0.05~0.5Ω.cm)

(3)高:10~1,000Ω/□(0.5~60Ω).cm)

(4) S-高:1,000-3,0002/□(60-200Ω.m)

(5)太陽能晶圓:5-500Ω2/□(0.2-15Ω.cm)

產(chǎn)品尺寸

·機(jī)身:W255xD275xH95mm,4kg

·探頭部分:20mmΦx80mm

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